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设备可与不同类型的ATE测试机组合，实现完成晶圆WAT/CP测试，该设备，能为客户提供一个低成本且高产量的晶圆测试解决方案，满足（晶圆厂、封测厂、测试厂）等不同客户的测试需求。
设备专业应对12"、8"、6"的晶圆Si/GaN/SiC等各类器件的先进芯片性能测试，具有目前行业较高的温宽区和测试精度,可匹配多种测试应用环境.
一款功能进阶级探针台，能实现 1μm 以上的电极 Pad 测试，工效学设计简单易操作，灵活的 UPStart™ 模块化设计， 客户可通过较低的成本升级更多的测试功能
各种半导体材料高精度测量的软件集成系统
TFT-LCD面板亮点的修复，OLED面板亮点的修复
TFT-LCD和OLED Array Panel线路开路和短路的修复，Mask的缺陷修复
OLED/LCD 20寸、55寸、70寸以内面板的亮点及异常修复
提供4种不同精度的亚微米级探针座供客户选择(0.1um/0.7um/2 um/10um)
固定在针座上面连接探针和信号线缆的机械装置，用于固定探针和引出信号。探针夹具会随着针座的 X-Y-Z旋钮调节而 在X-Y-Z方向线性运动。
多种GGB探针选择，T-4系列软针较多的应用于点测集成电路的线路，电极，或者FIB(聚焦离子束) 制作的mini电极。ST 系列硬针探针应用与绝大多数的芯片电极点测和线路点测。
提供4种不同精度的亚微米级探针座供客户选择(0.1um/0.7um/2 um/10um)
固定在针座上面连接探针和信号线缆的机械装置，用于固定探针和引出信号。探针夹具会随着针座的 X-Y-Z旋钮调节而 在X-Y-Z方向线性运动。
多种GGB探针选择，T-4系列软针较多的应用于点测集成电路的线路，电极，或者FIB(聚焦离子束) 制作的mini电极。ST 系列硬针探针应用与绝大多数的芯片电极点测和线路点测。
提供4种不同精度的亚微米级探针座供客户选择(0.1um/0.7um/2 um/10um)
固定在针座上面连接探针和信号线缆的机械装置，用于固定探针和引出信号。探针夹具会随着针座的 X-Y-Z旋钮调节而 在X-Y-Z方向线性运动。
多种GGB探针选择，T-4系列软针较多的应用于点测集成电路的线路，电极，或者FIB(聚焦离子束) 制作的mini电极。ST 系列硬针探针应用与绝大多数的芯片电极点测和线路点测。
提供4种不同精度的亚微米级探针座供客户选择(0.1um/0.7um/2 um/10um)
固定在针座上面连接探针和信号线缆的机械装置，用于固定探针和引出信号。探针夹具会随着针座的 X-Y-Z旋钮调节而 在X-Y-Z方向线性运动。
多种GGB探针选择，T-4系列软针较多的应用于点测集成电路的线路，电极，或者FIB(聚焦离子束) 制作的mini电极。ST 系列硬针探针应用与绝大多数的芯片电极点测和线路点测。
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