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森美协尔硅光测试系统亮相SEMICON Europa 2025展会

发布时间:2025-11-27来源: SEMISHARE

2025年11月18日全球半导体行业盛会SEMICON Europa 2025在慕尼黑展览中心隆重开幕。SEMICON Europa是全球半导体行业最具影响力的盛会之一,汇聚了全球顶尖的厂商、专家与行业洞察。


此次SEMISHARE森美协尔携最新研发的硅光测试系统首次亮相海外展会,以其创新技术引发业内广泛关注。

    

   




SHOWCASE HIGHLIGHTS
展示亮点


本次展出的晶圆级硅光测试系统,是为硅光芯片量产测试场景开发的一体化解决方案,涵盖光/电参数同步测试、自动化探针台集成、快速切换测试模式等核心功能,可有效解决传统测试方案效率低、兼容性差的痛点。



本套系统,客户可以根据芯片生产阶段、芯片类型、产能要求、芯片测试兼容要求等灵活选择不同的通用探针台。


展会上负责人Ryan表示:“未来,公司将通过智能扎针Genius Probing技术,以创新的系统设计和智能软件算法的强大组合,保证晶圆精准接触,实现高度可靠测试数据的快速输出,极大缩短测试周期”。


这不仅是一次产品的亮相,更是森美协尔技术实力与创新精神的集中体现。欧洲是半导体与光子技术的重要创新高地,我们期待与当地的合作伙伴、客户及行业专家深入交流,共同推动硅光技术的进步与产业化应用。

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