规格/尺寸
SS-700
亚微米电路/射频测试探针座
规格：X-Y-Z方向行程；8 x 8 x 8mm；线性移动；丝杠精度；700 Thread / Inch；移动精度；0.1 微米
尺寸：148mm长*120mm宽*140mm高；重 1500 克
特点：●亚微米工艺集成电路电路测试；●线性，无后座力移动；●可以配合同轴/三轴探针夹具使用；●夹具可以30度范围倾仰；●可以使用钨探针；●可以配置为东/南/西/北四个方向的射频针座；●射频测试能力；●直流到40GHz~120GHz；●可以配合使用校准片和校准软件；●探头接口和线缆45度连接，无需L型转接头；●探头可以拆卸维修；●带射频测试线固定装置
SS-100
亚微米电路/射频测试探针座
规格：X-Y-Z方向行程；12 x 12x 12mm；线性移动；丝杠精度；100 Thread / Inch；移动精度；0.7 微米
尺寸：115mm长*100mm宽*112mm高；1000 克左右
特点：●亚微米工艺集成电路电路测试；●线性，无后座力移动；●可以配合同轴/三轴探针夹具使用；●夹具可以30度范围倾仰；●可以使用钨探针；●可以配置为东/南/西/北四个方向的射频针座；●射频测试能力；●直流到40GHz~120GHz；●可以配合使用校准片和校准软件；●探头接口和线缆45度连接，无需L型转接头；●探头可以拆卸维修；●带射频测试线固定装置
SS-40-T
电路/射频测试针座
规格：X-Y-Z方向行程；12 x 12x 12mm；线性移动；丝杠精度；40 Thread / Inch；移动精度；2 微米
尺寸：64mm长*47mm宽*66mm高；200 克左右
特点：●线性移动；●I/O Pad 点测；●电路点测；●射频测试；●较小的体积；●可以配合同轴/三轴探针夹具使用；
SS-40
I/O Pad/Electro-Optics光电测试针座
规格：X-Y-Z方向行程；12 x 12x 12mm；线性移动；丝杠精度；40 Thread / Inch；移动精度；10 微米
尺寸：64mm长*47mm宽*55mm高；175 克左右
特点：●价格实惠；●线性移动；●I/O Pad 点测；●光电器件点测；●较小的体积；●可以配合同轴/三轴探针夹具使用；
附件
- 三轴探针夹具
- 射频探头
- 同轴探针夹具
- 光纤探头
- 磁力底座，磁力翻转底座，真空底座
- 低电流/电容点测配件
- 电动针座升级
- 高压配件
