规格/尺寸

SS-700
亚微米电路/射频测试探针座
规格:X-Y-Z方向行程;8 x 8 x 8mm;线性移动;丝杠精度;700 Thread / Inch;移动精度;0.1 微米
尺寸:148mm长*120mm宽*140mm高;重 1500 克
特点:●亚微米工艺集成电路电路测试;●线性,无后座力移动;●可以配合同轴/三轴探针夹具使用;●夹具可以30度范围倾仰;●可以使用钨探针;●可以配置为东/南/西/北四个方向的射频针座;●射频测试能力;●直流到40GHz~120GHz;●可以配合使用校准片和校准软件;●探头接口和线缆45度连接,无需L型转接头;●探头可以拆卸维修;●带射频测试线固定装置

SS-100
亚微米电路/射频测试探针座
规格:X-Y-Z方向行程;12 x 12x 12mm;线性移动;丝杠精度;100 Thread / Inch;移动精度;0.7 微米
尺寸:115mm长*100mm宽*112mm高;1000 克左右
特点:●亚微米工艺集成电路电路测试;●线性,无后座力移动;●可以配合同轴/三轴探针夹具使用;●夹具可以30度范围倾仰;●可以使用钨探针;●可以配置为东/南/西/北四个方向的射频针座;●射频测试能力;●直流到40GHz~120GHz;●可以配合使用校准片和校准软件;●探头接口和线缆45度连接,无需L型转接头;●探头可以拆卸维修;●带射频测试线固定装置

SS-40-T
电路/射频测试针座
规格:X-Y-Z方向行程;12 x 12x 12mm;线性移动;丝杠精度;40 Thread / Inch;移动精度;2 微米
尺寸:64mm长*47mm宽*66mm高;200 克左右
特点:●线性移动;●I/O Pad 点测;●电路点测;●射频测试;●较小的体积;●可以配合同轴/三轴探针夹具使用;

SS-40
I/O Pad/Electro-Optics光电测试针座
规格:X-Y-Z方向行程;12 x 12x 12mm;线性移动;丝杠精度;40 Thread / Inch;移动精度;10 微米
尺寸:64mm长*47mm宽*55mm高;175 克左右
特点:●价格实惠;●线性移动;●I/O Pad 点测;●光电器件点测;●较小的体积;●可以配合同轴/三轴探针夹具使用;
附件
- 三轴探针夹具
- 射频探头
- 同轴探针夹具
- 光纤探头
- 磁力底座,磁力翻转底座,真空底座
- 低电流/电容点测配件
- 电动针座升级
- 高压配件