我们的网站使用由我们和第三方提供的 cookies。部分cookies是网站运营所必需的,而其他 cookies您可以随时调整,特别是那些有助于我们了解网站性能、为您提供社交媒体功能、通过相关内容为您带来更好的体验和广告宣传的cookies...。

我接受
联系我们
邮件留言
中文
  • 全球-简体中文
  • Global-English
  • 产品概况 功能结构 规格参数 资料下载

    A系列全自动探针台

    产品概要

    支持Sic/Gan晶圆测试,大功率晶圆测试; 更换Chuck设计,可针对不同晶圆测试; 可与仪器仪表系统进行集成; 可升级高低温测试环境测试

    基本信息

    产品型号 A8、A12 工作环境 开放式
    电力需求 220V,50/60Hz 操控方式 全自动
    产品尺寸 A8(1124 x 1111 x 925) ;A12(1600 x 1660 x 1450) 设备重量 1.2T, 2T

    应用方向

    晶圆测试、各类器件、Wafer等进行I-V、C-V、光信号、RF、1/f噪声等特性分析、射频测试等

    技术特点

    A8全自动探针台

    ●小尺寸轻重量,更小的占地面积 ●微米级全闭环运动控制 ●伯努利手臂支持薄片 ●高精度和测试速度,大大提高测试效率 ●24*7全天候在片探测 ●高压大电流测试应用

    A12全自动探针台

    ●高测试精度与测试速度,大大提升产能效益 ●全自动化系统运行,快速安全可靠测试 ●支持单点测试和连续测试 ●综合控制系统,快速接入仪器测试 ●CHUCK高效测试系统,运行速度超200mm/s ●丰富的软件自动化测试 ,机械精度精确校准 ●可升级自动wafer厚度测量和ID读卡 ●内部防震系统装置,运行更稳定

      暂无数据
    客户服务
    采购留言

    联系电话

    0755-2690 6952 转 801/ 804/ 806/ 814

    发送邮件
    © 2023 深圳市森美协尔科技有限公司 All Rights Reserved.粤ICP备19119103号