霍尔测试系统--森美协尔——努力做领先的半导体设备供应商


产品中心

产品名称: 霍尔效应测试系统

产品型号: Model HALL series

产品文档: <文件下载>

咨 询 价 格

产品详情


霍尔效应测试系统
简介
本系统是集成
keithley 2400/2600系列高精度源表和semishare Polaris 高低温平台采用范德堡尔法则设计的应用于高精度的测量半导体材料的载流子类型(P/N型),载流子浓度,迁移率,电阻率,霍尔系数等参数。能够适用于 Si,SiGe,SiC,GaAs,InGaAs,InP,GaN等各种材.
软件操作环境  Windows 98 / ME / 2000 / NT / XP环境下
有效电流输出范围 6nA~100mA
有效电压测量范围 -5~5V
载流子浓度 concentration(/cm3) 107  1021
迁移率Mobility(cm2/Vs) 1~107 
电阻率Resistivity (Ohm.cm) 10-4 - 107
A/B ratio OK
RHD(cm3/C) OK
RHC(cm3/C) OK
RH(cm3/C) OK
Sheet Resistance(Ohm) OK
温度 温度(K):常温和77K 两个温度点
Option:77K~500K ,0.1摄氏度精度,可通过程序设定
仪器尺寸和重量 主机尺寸 89mm  × 213mm  × 370mm 
重量 3.21kg 
工作环境要求 0°–50°C, 70%R.H.
存储环境要求 –25°C to 65°C
范德堡尔法则终端转换器 200×120×110 mm (W×H×D)
     7.7千克
测量材料 Si, SiGe, SiC, ZnO, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ITO等所有半导体薄膜(P型和N)
特点
keithley测试平台 功能丰富的软件
超高精度的源表 可视化的界面
模块化的设计 高低温变温环境



地址:深圳市宝安区西乡恒丰工业城C1栋3楼电话:0755-26906952 0755-26901912

手机站 邮编:518100         传真:0755-85299649

Copyright © 2017 深圳市森美协尔科技有限公司  备案号:粤ICP备18085569号 

森美协尔官网
关注我们