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深圳鑫志尚电子有限公司
失效分析

 
无损检测
 
封测
 
失效定位
 
超声波扫描显微镜(SAT)
 
Probe探针测IV, CV Curve 测试
 
微光显微镜(EMMI)
X射线检测( X-ray)
芯片拍照
砷化镓铟微光显微镜(InGaAs)
焊点检测
芯片打线(Wire Bonding)
激光束电阻异常侦测(OBIRCH)
光学拍照
芯片去封装(Decap)
 
 
样品制备
 
 
芯片去层
 
 
染色
 
 
芯片研磨
 
 
聚焦离子束(FIB)
 
 
激光切割(Laser Cut)
 
 

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激光模拟单粒子辐射试验系统
SEE (LASER SYSTEM FOR SINGLE EVENT EFFECTS TESTING) , LSS (LASER SYSTEM SINGLE PARTICLE SIMULATION)
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