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Semishare 参展2017年IPFA国际集成电路物理与失效分析会议

2017年7月4~7日,第24届国际集成电路物理与失效分析会议(IPFA2017)在四川成都富力丽思卡尔顿酒店隆重召开,Semishare公司应邀参加了此次盛会。

IPFA国际会议是全球有关半导体物理分析、失效分析及可靠性方面学术水平最高、规模最大、影响力最广的国际会议。本届大会邀请了来自中国、美国、欧洲、新加坡、日本及亚太其他各国的著名专家和学者作了大会报告和分会报告,并吸引了来自全球300多名业界代表参会。IPFA2017致力于各种先进的半导体设备中管理故障的物理机制和电气物理故障分析技术、方法和工具,用以来可靠的确定这些设备故障的根本原因。

Semishare作为探针台生产厂家,在半导体物理分析和失效分析设备生产制造方面有多年的生产经验,完全客制化服务于各大高校、研究院和公司,此次盛会为Semishare将来在该行业的发展方向奠定了一定的基础。


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