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2017年极端环境微纳电子器件可靠性国际研讨会

发布时间:2017/8/4 9:37:45      作者:admin      浏览数:197

 

        “2017年极端环境微纳电子器件可靠性国际研讨会”于5月22-24日在四川省成都市举行,200余位国内外专家学者齐聚一堂,共同探讨极端环境下微纳电子器件可靠性领域的最新研究结果。Semishare作为受邀客座嘉宾,很荣幸参加该研讨会,这是对公司在行业的一种肯定,也为我司进一步做强做大增添的强大信心。
       
        大会设置了5个分会场,分别围绕电子器件可靠性(新型器件、缺陷、物理机制和建模仿真等)、可靠性设计(材料级、工艺级、器件级、电路级、系统级)、极端环境下的损伤效应和优化技术、充放电效应和静电防护、失效表征和分析等议题展开研讨。来自美国、法国、英国、德国、意大利、中国等国的33名可靠性领域产学研界专家作口头邀请报告,58名学者作口头报告。大会展示了68份大会海报,得到了参会者的强烈关注。
 

 

 

 

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